개발 포트폴리오

LED형광 소재 자동 검사

LED Chip 측정 장비_Photometric and Colormetric Assessment

검출 및 측정 항목
  • • 제품 형상 불량
  • • Size 측정
  • • 파손
  • • 이물 및 Cutting 불량
  • • Cx, Cy 측정

시스템 특징
적용 기술

  • 16K 고속 라인 스캔 카메라 기반의 비전 검사
  • 행열 인덱스 기반 LED 웨어퍼 맴 생성 기술 적용
  • Area 카메라 기반의 색차 및 광도 측정
  • 카메라 callibration 기술을 통해 Cx, Cy 값 정확도 높음
  • 8" Size 검사 영역 커버
User Interface

색차 및 광도 측정
User Interface